第4年
时代 JB-W300A I/C悬臂梁/简支梁摆
时代 TIME3110袖珍式表面粗糙度仪-
时代 WDW系列微机控制电子万能试验
时代 TJSZ6体视显微镜
时代 悬臂梁/简支梁冲击试验机
北京时代 WEW-2000A型微机屏显式液
时代 TUD500超声波探伤仪
时代 TIME323X粗糙度形状测量仪
时代 MWD-W系列人造板试验机
F1探头
F1探头是涂层测厚仪磁性法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是TT270涂层测厚仪的标配探头。
测头型号 | F1 | |
工作原理 | 磁感应 | |
测量范围（um） | 0-1250 | |
低限分辨力(um) | 0.1 | |
示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+1] |
两点校准(um) | ±[(1～3)%H+1] | |
测量条件 | 最小曲率半径(mm) | 凸1.5 |
基体最小面积的直径(mm) | ф7 | |
最小临界厚度(mm) | 0.5 | |
探头尺寸（mm) | ф12X47 | |
N1探头
N1探头是涡流法涂层测厚仪测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是TT270覆层测厚仪的标配探头。
测头型号 | N1 | |
工作原理 | 电涡流 | |
测量范围（um） | 0-1250(铜上镀铬0-40um) | |
低限分辨力(um) | 0.1 | |
示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+1.5] |
两点校准(um) | ±[(1～3)%H+1.5] | |
测量条件 | 最小曲率半径(mm) | 3 |
基体最小面积的直径(mm) | ф5 | |
最小临界厚度(mm) | 0.3 | |
探头尺寸（mm) | ф15X73 | |
F1/90探头
TT270覆层测厚仪选配F1/90探头，主要用于管材内壁的涂层厚度测量。它细长的身形可以轻松的深入其它探头无法到达的细管中。夹层和细缝中的涂层厚度测量也是它的拿手好戏。
测头型号 | F1/90 | |
工作原理 | 磁感应 | |
测量范围（um） | 0-1250 | |
低限分辨力(um) | 0.1 | |
示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+1] |
两点校准(um) | ±[(1～3)%H+1] | |
测量条件 | 最小曲率半径(mm) | 平直 |
基体最小面积的直径(mm) | ф7 | |
最小临界厚度(mm) | 0.5 | |
探头尺寸（mm) | 7.5X11X200 | |
F10探头
TT270涂镀层测厚仪选配F10探头，测量范围由标配的0-1250um扩展至0-10000um，主要用于大厚度的涂层测量。选配F10探头还应增配2000um、4000um、8000um的标准校准片，用于校准仪器。
测头型号 | F10 | |
工作原理 | 磁感应 | |
测量范围（um） | 0-10000 | |
低限分辨力(um) | 10 | |
示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+10] |
两点校准(um) | ±[(1～3)%H+10] | |
测量条件 | 最小曲率半径(mm) | 10 |
基体最小面积的直径(mm) | ф40 | |
最小临界厚度(mm) | 2 | |
探头尺寸（mm) | ф27X47 | |
F400探头
TT270涂镀层测厚仪选配F400探头，主要用于较薄厚度的涂层测量，可获得更精确的测量结果和更高的重复性，另外在管材基体直径较小或者被测区域接触面积较小时，F400探头也是最佳的选择。
测头型号 | F400 | |
工作原理 | 磁感应 | |
测量范围（um） | 0-400 | |
低限分辨力(um) | 0.1 | |
示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+1] |
两点校准(um) | ±[(1～3)%H+0.7] | |
测量条件 | 最小曲率半径(mm) | 凸 1 |
基体最小面积的直径(mm) | ф3 | |
最小临界厚度(mm) | 0.2 | |
探头尺寸（mm) | ф12X55 | |
CN02探头
TT270漆膜测厚仪选配CN02探头，主要用于测量线路板上的铜箔厚度，检测范围在10- 200um之间。
测头型号 | CN02 | |
工作原理 | 电涡流 | |
测量范围（um） | 10-200 | |
低限分辨力(um) | 1 | |
示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+1] |
两点校准(um) | - | |
测量条件 | 最小曲率半径(mm) | 平直 |
基体最小面积的直径(mm) | ф7 | |
最小临界厚度(mm) | 无限制 | |
探头尺寸（mm) | ф16X67 | |
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